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Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Springer
Günter Kemnitz
fehler
fiir
anzahl
abbildung
datenfehler
iiber
modellfehler
fehleranzahl
systems
erwartende
gro
zuverlassigkeit
siehe
tests
verlasslichkeit
scan
fehlfunktionen
wert
abschnitt
betragt
fehlerdichte
systeme
schaltung
testschritt
testzeit
funktion
nachweisbaren
testauswahl
aufgabe
entwurf
teilzuverlassigkeit
beispiel
eingabe
testsatz
wahrscheinlichkeit
besteht
vgl
bits
daten
mindestens
schieberegister
zufallstest
abschatzung
berechnung
testschritte
erwartenden
fehlerbeseitigung
nachweis
schatzen
testsatzlange
Tahun:
2007
Bahasa:
german
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/
0
german, 2007
2
Test und Verlässlichkeit von Rechnern (eXamen.press) (German Edition)
Springer
Günter Kemnitz
fehler
fiir
anzahl
abbildung
datenfehler
iiber
modellfehler
fehleranzahl
systems
erwartende
gro
zuverlassigkeit
siehe
tests
verlasslichkeit
scan
fehlfunktionen
wert
abschnitt
betragt
fehlerdichte
systeme
schaltung
testschritt
testzeit
funktion
nachweisbaren
testauswahl
aufgabe
entwurf
teilzuverlassigkeit
beispiel
eingabe
testsatz
wahrscheinlichkeit
besteht
vgl
bits
daten
mindestens
schieberegister
zufallstest
abschatzung
berechnung
testschritte
erwartenden
fehlerbeseitigung
nachweis
schatzen
testsatzlange
Tahun:
2007
Bahasa:
german
Fail:
PDF, 23.30 MB
Tag anda:
0
/
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german, 2007
3
Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Hans-Joachim Wunderlich (auth.)
schaltung
fehler
schaltungen
proc
bild
seiten
wahrscheinlichkeit
funktion
verfahren
conference
daher
muster
zahl
protest
zufallstest
gütefunktion
herausgegeben
scan
eingangswahrscheinlichkeiten
optimierten
falls
wert
knoten
zufallsmustern
automation
folgenden
zufallsmuster
lrs
tests
signalwahrscheinlichkeiten
vlsi
eingänge
primären
abschnitt
berechnung
chip
läßt
stets
circuits
eingang
optimierung
tabelle
testing
selbsttest
testability
ausgang
erzeugt
fehlerentdeckungswahrscheinlichkeiten
redundanz
schaltnetze
Tahun:
1987
Bahasa:
german
Fail:
PDF, 3.95 MB
Tag anda:
0
/
0
german, 1987
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